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IC測(cè)試治具
噴涂設(shè)備
通用型PCBA測(cè)試系統(tǒng)
精密多軸運(yùn)動(dòng)平臺(tái)-花崗巖基座
IC測(cè)試治具
IC老化測(cè)試治具
①
、可根據(jù)需要定制各類封裝
IC
的老化測(cè)試治具
②
、測(cè)試間距
≥
0.30mm
。
③
、溫度范圍
-170
℃
～
+
200
℃
。
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