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IC測(cè)試治具
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通用型PCBA測(cè)試系統(tǒng)
精密多軸運(yùn)動(dòng)平臺(tái)-花崗巖基座
IC測(cè)試治具
IC老化測(cè)試治具
①
、可根據(jù)需要定制各類(lèi)封裝IC的老化測(cè)試治具
②
、測(cè)試間距
≥
0.30mm
。
③
、溫度范圍-170℃～+200℃
。
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