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        IC測試治具
      
        
      
        
        
        
  
        
    
          
    
        
                    
        		
    
          
  
        

        

			
        IC老化測試治具
        
              
        ①、可根據(jù)需要定制各類封裝IC的老化測試治具 

        ②、測試間距≥0.30mm。
        

        ③、溫度范圍-170℃～+200℃。
        		
      
        
    
        		
  
        

        
  
        
    
        
      
        
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